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惠州市華高儀器設(shè)備有限公司
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郵箱：1932151337@qq.com
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X射線熒光鍍層測(cè)厚儀介紹
更新時(shí)間：2016-10-14 點(diǎn)擊次數(shù)：1251次
X射線熒光鍍層測(cè)厚儀可以同時(shí)分析15種元素，自動(dòng)修正X射線重疊譜線，測(cè)量精度高、穩(wěn)定性好，是測(cè)量鍍層厚度的主要儀器。
X射線熒光鍍層測(cè)厚儀的工作原理是對(duì)被測(cè)樣品發(fā)射一束一次X射線，樣品的原子吸收X射線的能量后被激發(fā)并釋放出二次X射線。每個(gè)化學(xué)元素會(huì)釋放出特定能量的X射線。通過(guò)測(cè)量這些釋放出的二次X射線的特征能量和強(qiáng)度，X射線分析儀就能夠?qū)Ρ粶y(cè)材料的鍍層厚度和成份提供定性和定量分析。因?yàn)槭遣捎肵射線進(jìn)行檢測(cè)，可以達(dá)到無(wú)損檢測(cè)的效果。
X射線熒光鍍層測(cè)厚儀可以做到快速無(wú)損測(cè)量，測(cè)量耗時(shí)短，在10秒內(nèi)就能得出測(cè)量結(jié)果，且測(cè)量結(jié)果度高，可至μin。
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